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馬爾文帕納科臺(tái)式XRF能譜儀一體機(jī)Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光譜儀、內(nèi)置計(jì)算機(jī)、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測技術(shù)的新成果，是低成本小型臺(tái)式XRF儀器。

X射線熒光光譜儀 （XRF） 能夠?qū)Χ喾N材料進(jìn)行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 馬爾文帕納科X射線熒光光譜儀Zetium專為滿足要求嚴(yán)苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)，其高品質(zhì)的設(shè)計(jì)和功能，可對從鈹?shù)斤训榷喾N元素進(jìn)行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。

由于時(shí)間關(guān)鍵型過程控制或運(yùn)行樣品高處理量，您是否需要在幾秒鐘內(nèi)對化學(xué)成分進(jìn)行無損分析？ 同時(shí)測量多達(dá) 28 種元素，濃度范圍為從 ppm 至 100％，馬爾文帕納科多道同時(shí)式波長色散型X射線熒光光譜儀Axios FAST 是理想的解決方案。 準(zhǔn)確而強(qiáng)大的分析，即使經(jīng)驗(yàn)不足的員工也可方便地操作，同時(shí)正常運(yùn)行時(shí)間長，擁有成本低。

馬爾文帕納科推出的臺(tái)式XRF Epsilon 4 臺(tái)式X射線熒光光譜儀將新的激發(fā)和檢測技術(shù)于智能設(shè)計(jì)相結(jié)合，其分析更能更接近于功率更高的落地式光譜儀。多重優(yōu)化的 X 射線輸出和探測系統(tǒng)確保您擁有Z杰出的系統(tǒng)性能。

馬爾文帕納科晶圓分析儀2830 ZT提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 專門針對半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)而設(shè)計(jì)，該儀器可為多種晶片（厚達(dá) 300 mm）測定層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性。